AI自動外観検査の導入プロセスと最適な学習データの取得方法
HiBiSでは、IT勉強会の共催事業として、広島市工業技術センターにおいて開催される「令和３年度情報・電子技術講習会」を、地場中小企業の技術力向上、人材育成を図るため計画しております。皆様のご参加お待ちしております！
１ 名称 令和３年度 情報・電子技術講習会
２ 開催日時 令和３年１２月１６日（木） １３：３０～１５：３０
３ テーマ 目視検査DX 「AI自動外観検査の導入プロセスと最適な学習データの取得方法」
４ 講 師 シーシーエス株式会社 国内営業部門MVソリューション部 AIビジネス営業課
兼 新規アプリケーション開拓課 鯰江 智輝 氏
５ 内 容
〇外観検査自動化にAIを適用する利点
〇AI画像検査ソフトの使用方法や特徴
〇学習モデル構築のための最適な画像及び照明等の撮影環境
６ 会 場 広島市工業技術センター 本館３階研修室 広島市中区千田町三丁目８－２４
７ 受講方法 会場聴講とWeb聴講（後日、参加方法をメールで連絡）のいずれかを選択
８ 定員 ３０名
９ 主催 公益財団法人広島市産業振興センター
担当者 （公財）広島市産業振興センター 工業技術センター システム技術室 上杉
ＴＥＬ ０８２－２４２－４１７０